透明光学材料のキャラクタリゼーションのZ-Scan

- スペクトラ・フィジックス社Spitfire Pro XPとの連携用途設計
- 全パーツは連携動作用に選択され、試験されております
- 薄い光学材料キャラクタリゼーション

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製品番号

備考

標準納期

税抜価格

M-Z-SCAN

Z-Scan Kit, Characterization of Transparent Optical Materials, Metric

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Z-SCAN

Z-Scan Kit, Characterization of Transparent Optical Materials

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